Une longueur d'onde spéciale réduit les erreurs de mesure
La nouvelle caméra infrarouge optris PI 05M couvre une plage de mesure de 900 à 2000°C. Elle possède une résolution de 764 x 480 pixels, mesure sur une plage de longueur d’onde de 500 à 540 nm et complète donc l’optris PI 1M (de 0,85 à 1,1 µm). Grâce à la plage spectrale spécifique, elle minimise les erreurs de mesure lors d’émissivités inconnues ou changeantes. « Avec la PI 05M, nous avons développé une autre caméra infrarouge compacte, destinée à l’industrie métallurgique du monde entier, qui est parfaitement adaptée aux mesures de température spécifiques des métaux en fusion », explique Dr.-Ing. Ulrich Kienitz, directeur général d’Optris GmbH.
Mesures de températures élevées avec des fréquences d’image jusqu’à 1 kHz
Avec l’optris PI 05M, on peut mesurer des surfaces jusqu’à 2000°C, et ce en continu à partir de 900°C. À la fréquence d’image de 1 kHz, on peut effectuer des mesures avec une résolution optique de 72 x 56 pixels, tout en positionnant librement cette zone de plus de 4000 pixels. De plus, il existe également une sortie analogique en temps réel avec une zone de 8 x 8 pixels, également à positionnement libre. Ces possibilités permettent une adaptation parfaite à l’application choisie.
Optris PI 05 M mesure le point chaud d’un jet de coulée
Longueur d’onde de mesure spécifique, idéale pour les processus à température élevée et de traitement au laser
La caméra mesure les rayonnements infrarouges sur une plage spectrale comprise entre 500 et 540 nm, et elle est donc parfaitement adaptée à tous les processus de traitement au laser, puisque les rayonnements sont impeccablement bloqués au-delà de 540 nm. D’usage courant en métallurgie, le laser à diodes sur la plage de 900-1030 nm ou le laser NdYAG à 1064 nm n’ont donc pas d’influence négative sur la mesure. La caméra peut ici faire un travail impeccable sans filtres supplémentaires. Ces mesures à ondes courtes des surfaces métalliques possède l’avantage essentiel de minimiser fortement les erreurs de mesure lors d’émissivités inconnues ou changeantes.
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